تبلیغات
انجمن علمی نانوتکنولوژی دانشگاه آزاد اسلامی یزد - میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)
دوشنبه 1 آبان 1391  10:42 ق.ظ    ویرایش: - -
نوع مطلب: نانوتکنولوژی ،

میکروسکوپ نیروی اتمی وسیله ای است که توان آنالیز و توصیف نمونه ها در مقیاس میکروسکوپی را دارا می باشد. این بدین معنی است که ما می توانیم خواص سطح را با دقت تفکیکی در گستره ی بین( 100میکرون)،تا 1mm مشاهده کنیم. 

AFM) بر این اساس عمل می کند که اجازه می دهد یک قسمت قلم مانند که بسیار تیز است با تمایل به نمونه و یا قرار گیری در فاصله ی بسیار نزدیک به نمونه تصور آن سطح را بکشد . این قسمت قلم مانند، یک باریکه ی میکرونی است که معمولاً 100 آنگسترم قطر دارد.
قسمت قلم مانند در قسمت آزاد یک پایه ی معلق که بین 100 تا 200 میکرون طول دارد قرار گرفته است. و نمونه در زیر نوک قلم مانند پویش می گردد.
نیروهای مختلف نوک قلم مانند را جذب و یا دفع می کنند. این انحرافات (جاذبه و دافعه ها) ثبت شده و به وسیله ی نرم افزار، تصاویر مورد پردازش قرار می گیرند. تصویر نتیجه، یک نمایش توپوگرافیک از نمونه است که تنها یک تصویرخیالی است. اگر شما بخواهید که در مورد نمونه به جای یک دید از سطح آن چیزی بدانید مدلهای تصویری مختلفی وجود دارد. که در انواع دیگر از آنالیزها استفاده می گردد. همچنین نرم افزارهای متفاوت یا تکنیک های پویش کردن دیگری مورد نیاز است تا اطلاعات مورد نیاز برای آنالیز بدست آید. 
(AFM) می تواند یکی از ویژگی های خاص نمونه را اندازه گیری کند که دیگر انواع میکروسکوپ ها توان این تصویر برداری را ندارند.

تاریخچه: 

در سال 1986، میکروسکوپ نیروی اتمی بوسیله ی گرد بینینگ (Gerd Binning) اختراع شد. Binning این کار را برای شکست انحصار میکروسکوپ های تونلی روبشی (STM) که قبل از (AFM) مورد توجه بود، کرد. (STM) تنها می توانست از موادی تصویر برداری کند که یک جریان تونلی را هدایت کنند. (AFM) می توانست راهی برای تصویربرداری از دیگر مواد مانند پلیمرها و نمونه های بیولوژیکی که توانایی هدایت جریان را ندارند باز کند. در بعضی موارد، قدرت تفکیک (STM) بهتر از (AFM) است و علت آن اینست که جریان تونلی وابستگی اکپوتسیالی با فاصله دارد. این وابستگی نیرو-فاصله در (AFM) ، هنگامی که خواصی مانند تیزی نوک قلم مانند و نیروی برخورد مطرح می گردد، بسیار پیچیده تر می گردد. البته (AFM) همه کاره تر است و در مقایسه با دیگر انواع میکروسکوپ ها، (AFM) بهتر و یا در قیاس با آنهاست.[13]
برای یادگیری بهتر (AFM) را با دیگر انواع میکروسکوپ مقایسه می کنیم.

(AFM) در مقابل (SEM)

در مقایسه با میکروسکوپ الکترونی روبشی (AFM) ،(SEM) ، کنتراست توپوگرافی بسیارعالی مهیا می کند که ما به صورت مستقیم به اندازه ی ارتفاعات دست می یابیم و در خواص سطحی نیز تداخل ایجاد نمی شود. (احتیاج به پوشش دهی ندارد)

(AFM) در مقابل (TEM)

در مقایسه با میکروسکوپ های الکترونی عبوری (TEM)، تصویر سه بعدی (AFM)، بدون نیاز به آماده سازی گران قیمت نمونه، اطلاعات کامل تری از مقطع عرضی دو بعدی به ما می دهد. 

   


نظرات()  
جمعه 5 تیر 1394 10:48 ق.ظ
سلام کمک های بشر دوستانه دست ساخته خشونتهاست. پس اجازه دهید ایران یک کار به تمام معنی‌ انقلابی را انجام داده و پرچمی‌ را بالا ببرد که بیان کننده این است "همه در خانه خود بمانید و در کار بقیه دخالت نکنید".
 
لبخندناراحتچشمک
نیشخندبغلسوال
قلبخجالتزبان
ماچتعجبعصبانی
عینکشیطانگریه
خندهقهقههخداحافظ
سبزقهرهورا
دستگلتفکر

انجمن علمی نانوتکنولوژی دانشگاه آزاد اسلامی یزد